Listado de jurados nacionales e internacionales: IV edición del Certamen de Ensayos Blattmann, Odio Benito y Steiner

AuthorHéctor Olásolo Alonso
Pages142-149
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Listado de jurados nacionales e
internacionales: IV edición del Certamen de
Ensayos Blattmann, Odio Benito y Steiner
Jurado internacional
Elizabeth Odio Benito: magistrada de la Corte Inter-Americana de los Derechos
Humanos y magistrada de la Corte Penal Internacional (2003-2012).
Héctor Olasolo Alonso: profesor titular de carrera de la Universidad del Rosario
y presidente del Instituto Iberoamericano de La Haya y director del ANIDIP.
J. Alejandro Kawabata: asesor jurídico para el fortalecimiento institucional de
la Secretaría General Iberoamericana, en representación de la SEGIB.
Jurados nacionales
En la IV edición del Certamen actuaron como miembros de los jurados nacionales
las siguientes personas:
Argentina
Carolina Anello
Abogada de la Universidad de Buenos Aires (UBA); magíster en Estudios Interna-
cionales de la Universidad de Barcelona; candidata a doctorado de la UBA; docente
de Derecho Internacional Público y Derecho Internacional Penal en la Facultad de
Derecho de la Universidad de Buenos Aires; investigadora visitante en el Instituto
de Ciencias Criminales, a cargo del profesor Kai Ambos, en la Universidad George
August de Göttingen, Alemania; en la actualidad, prosecretaria letrada de la Corte
Suprema de Justicia de la Nación.
Eduardo D’Empaire
Abogado (UCA); especialista en Derecho Penal y Ciencias Penales, Universidad
del Salvador, Buenos Aires; juez del Tribunal Criminal de Bahía Blanca, Argentina;
profesor de pregrado (cátedras de Derecho Procesal Penal y Derechos Humanos) y
de posgrado (cátedras de Derecho Procesal Penal y Teoría de la Ejecución Penal) en
la Universidad Nacional del Sur, y director de carrera de Especialización en la Uni-
versidad Nacional del Sur.
Natalia M. Luterstein
Abogada (orientación en Derecho Internacional Público) de la UBA, magíster en
Derecho Internacional Público por la London School of Economics and Political
ANIDIP, Bogotá, ISSN: 2346-3120, Vol4, pp. 142-149, 2016

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